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掃描電子顯微鏡JCM-5700系列
在任何地方都可以使用的高性能可移動式SEM,任何人都可以得到良好結果的高度再現性,輕鬆獲得幾萬倍的圖像。


SEM基本知識資料
掃描電子顯微鏡在納米技術中得到了新的應用。納米加工技術十分先進。為此,開發出新的掃描電子顯微鏡技術,可供研究人員觀察所得到的結構。




熱門產品簡介
  • 離子色譜儀792 basic IC
  • JSM 6390掃描式電子顯微鏡
  • JSX 3400RⅡ桌上型ROHS分析儀
  • X-MET3000TXR+便擕式ROHS分析儀
  • X-Strata980全自動ROHS測厚儀
  • X-MET3000TX+便擕式合金分類儀
  • SAT 5100焊錫可靠性測試儀
  • X射線螢光鍍層測厚儀 CMI 900
  • OSPREY800 OSP厚度分析儀

  • SEM掃描電子顯微鏡 JSM-6390系列
    JSM-6390是一款高性能低價格的掃描電子顯微鏡,解析度可達3.0nm。可按用戶要求定做的操作介面便於用戶直觀操作儀器。Smile Shot™軟體保證得到最佳電子光學參數。JSM-6390的LGS型大樣品台和GS型普通樣品台可分別裝6英寸直徑和32mm直徑的樣品。

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    主要特點12

    主要特點
    5. 簡單易懂的操作介面及功能表
      操作介面簡單,直觀,默認的操作介面顯示了最常用的功能按鈕,並以簡單圖文標明,
    點擊滑鼠即可操作所有功能。
    即時量測,圖片上的長度和角度等結構細節能在顯示器上進行測量。
    6. 可變焦聚光鏡修正
      做表面觀察和元素分析等不同應用時,選擇合適束流非常重要,一般是通過聚光鏡與物
    2 鏡光闌來控制電子束流的。如果在調整束流過程中,焦點和觀察區域位移變化很小,調
    整起來會比較方便。JEOL獨有的可變焦聚光鏡可以保證這一點。
    小束流 中等束流 大束流
    7. 全對中樣品台
    2 當樣品台傾斜時,全對中樣品台可使圖像位移和焦點變化最小。使用此樣品台可多方向
      觀察粗糙表面樣品,採用一些不同角度攝取的圖片組成立體圖片,可通過立體圖片觀察
    深度。
    焦點在樣品傾斜後X,Y或旋轉方向運動時變化很小,這樣使大樣品巡覽效率很高。
    8. 低真空SEM
    3 低真空掃描電鏡,除了包括高真空模式外,還包括低真空模式,在低真空模式下,不導
    電樣品以及容易放氣的樣品都可以直接觀察。結合JEOL獨有的冷凍乾燥技術,可在低真
    空模式下快速觀察含水樣品。
     
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