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掃描電子顯微鏡JCM-5700系列
在任何地方都可以使用的高性能可移動式SEM,任何人都可以得到良好結果的高度再現性,輕鬆獲得幾萬倍的圖像。


SEM基本知識資料
掃描電子顯微鏡在納米技術中得到了新的應用。納米加工技術十分先進。為此,開發出新的掃描電子顯微鏡技術,可供研究人員觀察所得到的結構。




熱門產品簡介
  • 離子色譜儀792 basic IC
  • JSM 6390掃描式電子顯微鏡
  • JSX 3400RⅡ桌上型ROHS分析儀
  • X-MET3000TXR+便擕式ROHS分析儀
  • X-Strata980全自動ROHS測厚儀
  • X-MET3000TX+便擕式合金分類儀
  • SAT 5100焊錫可靠性測試儀
  • X射線螢光鍍層測厚儀 CMI 900
  • OSPREY800 OSP厚度分析儀

  • SEM掃描電子顯微鏡 JSM-6390系列
    JSM-6390是一款高性能低價格的掃描電子顯微鏡,解析度可達3.0nm。可按用戶要求定做的操作介面便於用戶直觀操作儀器。Smile Shot™軟體保證得到最佳電子光學參數。JSM-6390的LGS型大樣品台和GS型普通樣品台可分別裝6英寸直徑和32mm直徑的樣品。

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    主要特點12

    其他功能-(可選附件(有些型號標配下列部分配件))
    1 背散射電子探測器 2 低真空二次電子探測器
    3 能量分散型X射線分析儀(EDS) 4 波長分散型X射線分析儀(WDS)
    5 樣品氣鎖交換室 6 樣品室監視器
    7 操作面板 8 樣品冷卻單元
    9 LaB6電子槍 10 報告生成軟體
    11 電腦桌 (750mm*900mm*1100mm)
    其他功能-安裝要求
    電源 單相,100V交流,50/60Hz,3.0KVA 穩壓範圍10%以內(壓降3.0KVA3%以內)
    地線 獨立地線一條,小於等於100歐
    溫度 20土5℃
    濕度 小於等於60%
    交流磁場 小於等於0.3μT(50/60Hz正玄波,WD:15mm,Acc.V:30KV)
    地面振動 大於5Hz正玄波 小於等於2μm(P-P)
    占地 2000(W)*2500(D)*1800(H)mm
    重量 410Kg(JSM-6390) 435Kg(JSM-6390LV)
    門寬 850mm以上
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