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ROHS,磨厚分析儀X-Strata 980
結合了大功率X射線管和高解析度探測器,能同時滿足磨厚檢測和ROHS檢測的需求。


XRF基本知識資料
X光管為XRF唯一的耗材,檢測器是影響XRF測試性能的最重要的組成配件.




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    JSX-3400RⅡ是日本電子株式會社推出的08年新一代高性能能量分散型螢光X射線元素分析儀。該設備具有出眾性能指標,不僅能很好對應RoHS指令、ELV指令和其他環境指令相關元素分析,還對鹵素Cl高精度測試分析。 能同時達到無鹵測試及ROHS測試。
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    主要特點
    1. 實現高靈敏度*微少成分的分析*短時間測定!
      採用新光學系統與高解析度 Si(Li) 型檢測器。檢測器解析度保證在149eV以下。(業界
    最好的保證分辯率).
    最新開發的針對RoHS用X射線濾波器。減除了X射線管發出的干擾波峰以外,實現了波
    峰背景的低減與避免共存元素影響。
    2. 內置標配塑膠和金屬的檢量線。用戶不需要再做!
      通過設備的校正功能,配置各種檢量線長期使用完全有效。一般的保守也特別簡單。
    可針對Cl的檢量線,檢測極限可達9個PPM,達到無鹵測試要求。
    3. 簡單方便的作業系統
    2 按一鍵就完成測定!自動保存結果。一鍵生成報告
    4. 材料元素 Monitoring 系統。
      實現樣品形狀/厚度/面積和材料性質補正都自動進行。在業界最多補正功能。滿足樣
    品基材多樣性需求。
    5. 採用300mmφ 大型樣品室,自動樣品樣品倉門。
    3 大樣品可以直接放入様品室。自動樣品倉門更好密封樣品室。
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