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ROHS，磨厚分析儀X-Strata 980
結合了大功率X射線管和高解析度探測器，能同時滿足磨厚檢測和ROHS檢測的需求。


XRF基本知識資料
X光管為XRF唯一的耗材，檢測器是影響XRF測試性能的最重要的組成配件.

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    能量分散型螢光X射線元素分析儀 JSX-3400RⅡ
    JSX-3400RⅡ是日本電子株式會社推出的08年新一代高性能能量分散型螢光X射線元素分析儀。該設備具有出眾性能指標，不僅能很好對應RoHS指令、ELV指令和其他環境指令相關元素分析，還對鹵素Cl高精度測試分析。 能同時達到無鹵測試及ROHS測試。
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    技術參數
    元素範圍 Na11 - U92
    解析度 保證149ev 以下(JSX-3400R是目前市面上解析度最佳之桌上型XRF)
    X射線管 5-50kV, 1mA, 50W
    靶材 Rh靶
    濾波機構 4種自動交換(包括Open)
    准直器 1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ
    探測器 液氮製冷型Si(Li)半導體探測器
    液氮 3升（消耗量1升/日以下）僅使用
    樣品室尺寸 300 mmΦ x 150mmH
    樣品室環境
    大氣， 真空（可選）
    作業系統 Windows XP，19寸彩色顯示器
    主要附件 能量校正樣品/強度校正樣品/檢查樣品
    設備電源 單相AC100V±10%，單相AC220V±10%
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