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相關產品:制樣設備
JEOL生產高精度的制樣設備,從製備納米尺寸樣品的聚焦離子束系統(FIB)到製備大面積樣品剖面的拋光機,我們為半導體元器件、金屬、陶瓷和多層樣品提供各種專業、快速、高精度的剖面制樣設備。

SEM基本知識資料
掃描電子顯微鏡在納米技術中得到了新的應用。納米加工技術十分先進。為此,開發出新的掃描電子顯微鏡技術,可供研究人員觀察所得到的結構。




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  • 剖面拋光儀SM-09010
    SM-09010剖面拋光儀是一款操作簡便的制樣設備,用於SEM, EPMA, 和SAM的樣品製備。它可以製備軟的、硬的和複合材料的樣品,損傷、污染和變形可以控制得非常小。依靠離子束轟擊製備樣品剖面,觀察範圍大、清潔而且適用於幾乎所有材料。

    主要特点:
    SM-09010剖面拋光機,可以一步到位地製備出鏡面樣品。它幾乎可以適用於各種材料,包括難以拋光的軟材料,如銅、鋁、金、焊料和聚合物等;以及難以切割的材料,如陶瓷和玻璃等。配套的高級光學顯微鏡,可以精確地把樣品定位在幾個微米大小的剖面位置上。製備過程中,自動控制樣品搖擺,以避免產生表面劃痕。由於離子束水準入射、氬離子不會滲入樣品表面。

    技術參數
    加速電壓 2 ∼ 6kV
    傾斜角 最大±5º
    離子束直徑 500μm(FWHM)
    氣體 氬氣
    儀器尺寸 11mm(W) x 10mm(D) x 2mm(H)
    拋光速度 1.3µm/min(加速電壓6KV,工作距離100µm)
    最大樣品尺寸 2.8mmD×0.5 mmW×0.1mmH
    真空抽氣系統 涡轮分子泵或机械泵
    樣品台行程 X=±3mm, Y=±3mm
    真空測量 Penning 彭寧真空規

    實例分析
    傳統的機械拋光 使用SM-09010剖面拋光儀
    傳統的機械拋光
      使用SM-09010剖面拋光儀
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